Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology

Theory, Algorithms, and Applications


Engels
Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology, Manuel Servin ; J. Antonio Quiroga ; Moises Padilla - Gebonden - 9783527411528
Samenvatting
Lees Samenvatting Minder Samenvatting
Specificaties
Alle specificaties Minder specificaties
Recensies
-
Nog geen recensies. Wees de eerste!

Hostname: pro-mbooks3